什么是塞曼扣背景

塞曼扣背景是一种原子吸收光谱法中用于校正背景吸收的技术。该技术利用塞曼效应，即原子在强磁场作用下能级和原子谱线的磁致分裂现象，通过测量特定条件下原子吸收和背景吸收的总和与差值来消除背景干扰。

具体操作步骤如下：

施加磁场 ：在原子化器上施加一磁场。

测量偏振光

平行于磁场方向：

通过原子化器时，测得原子吸收和背景吸收的总和。

垂直于磁场方向：通过原子化器时，不产生原子吸收，但有背景吸收。

计算吸光度差值：

两次测定吸光度之差即为校正了背景吸收后的原子吸收吸光值。

塞曼扣背景技术的优点包括：

全波段校正：可以在整个光谱范围内进行背景校正，适用于从190nm至900nm的光谱范围。

高准确度：背景校正的准确度较高。

然而，塞曼扣背景技术也存在一些缺点：

灵敏度损失：由于使用偏振光过滤器，光能量损失50%，导致灵敏度下降。

线性及动态范围受限：校正曲线的线性及动态范围可能受到损失。

适用性限制：不能用于校正由于盐类分子产生的宽带吸收背景。

在实际应用中，氘灯扣背景和塞曼扣背景各有优缺点。氘灯扣背景适用于紫外光区，而塞曼扣背景适用于全波段。目前市场上销售的原子吸收光谱仪多数采用氘灯扣背景，但在需要全波段校正的情况下，塞曼扣背景技术更为适用。